奧林巴斯CIX100檢測系統：簡化技術清潔度

保證部件、工件和流體具有合格的清潔度是制造過程的核心所在。在對大多為微米級尺寸的污染物和異物進行計數、分析和分類的過程中達到高標準，對于*終產品的開發、制造、生產和質量控制等各種工作流程都至關重要。各種國際和國家指令對于如何確定基本加工零件上顆粒污染的方法和記錄要求都有描述，因為顆粒污染會直接影響工件和部件的使用壽命。目前的標準要求提供有關污染性質的詳細信息，如顆粒的數量、粒度分布和顆粒特性。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統旨在滿足現代工業以及國家和國際指令對清潔度的要求。

標準的清潔度檢測流程：準備（第1-3步）和檢測（第4-6步）。第1步：提取，第2步：過濾，第3步：稱重，第4步：檢測，第5步：審核，第6步：結果。

                                               

簡單、可靠

硬件和軟件無縫集成，打造出一款可以提供可靠、準確數據的耐用型高效率系統。
· 易于設置的自動化、交鑰匙解決方案
· 穩定的測量系統設置有利于提供可重復的結果
· 卓 越的光學性能和可再現的成像條件
· 自動化系統通過集成的校準裝置進行自檢
· 全系統集成，實現所有硬件部件的自動化控制
· 支持各種圓形和矩形樣品架

     

通過直觀的指導提高生產力

· 專用、簡單的工作流程可*大限度地減少用戶操作，并提供可靠的數據 - 與操作員和經驗水平無關
· 借助便于使用的工具輕松修改檢測數據
· 分步指導可提高生產率，并縮短檢測時間
· 用戶權限管理可限制功能，以盡量減少人為錯誤
· 觸摸屏顯示大尺寸按鈕，容易點擊
· 符合要求的一鍵式報告，實現高效的文件記錄
· 所有數據均自動保存，并可輕松導出和共享
· 采用可選材料分析解決方案的獨立顯微鏡模式

快速實時分析

創 新的一體化掃描解決方案檢測反光（金屬）和非反光顆粒的速度是需要兩幅獨立圖像的傳統方法的兩倍。即時反饋顆粒計數和顆粒分類的信息可幫助您快速做出決策。

· 用于快速識別濾膜范圍、顆粒簇或*差粒子的概覽圖像

· 對2.5 μm至42 mm范圍內的污染物顆粒進行自動實時處理和分類

· 高效：系統在一次掃描中檢測反光和非反光顆粒

· 實時分析使您能對結果做出實時反應

· 可根據選定的行業標準定制符合要求的結果

有效的數據評估

借助強大的、易于使用的工具修改檢測數據，支持公司和國際清潔度檢測標準。清晰呈現所有相關的檢測結果，節省時間。

· 圖像和數據的有組織排列，使數據審核效率更高

· 可選擇各種視圖，立即識別顆粒

· 顆粒位置和縮略圖鏈接到實時圖像

· 輕松地對檢測數據進行重新分類、審核、修改和重新計算

· 實時顯示整體清潔度代碼、顆粒和分類表

· 趨勢分析，以確定隨時間推移而出現的潛在的測量偏差

· 在一個視圖中顯示完整的檢測數據

一鍵式報告制作方式符合國際標準中闡述的要求和方法。報告可以定制（例如，包括顆粒形態），從而可輕松滿足不同公司的特定標準。使用預定義的合規模板生成專業報告。